無錫創凱旗下的藍膜芯片瑕疵檢測AOI設備為晶圓切割后芯粒檢測設備，使用先進的打光技術，可以清楚的辨別芯粒的外觀瑕疵。結合不同的光源角度、亮度及取像模式，使得設備可廣泛應用于LED、激光二極管及光敏二極管等精密電子產業。由于使用的高速相機以及自行開發的深度學習AI算法，設備可以快速高效的檢測出芯品的缺陷瑕疵， 單顆芯片的處理時間可以達到15msec。設備同時提供自動對焦與翹曲補償功能，以克服芯片薄膜的翹曲與載具的水平問題。設備配備自動變焦鏡頭系統，百萬級數碼變焦彩色相機，使用者可快速依芯粒或瑕疵尺寸進行操作。系統的小分辨率為0.5um，可以檢測1.5um尺寸的瑕疵產品。希望對您有所幫助。

無錫市創凱電氣控制設備有限公司主要從事的就是工業自動化控制領域檢測類的產品研發及解決方案。無錫創凱研制的藍膜芯片瑕疵檢測AOI設備性能優異，在辨別芯粒的外觀瑕疵方面有著很高的效率，在市場上的使用評價不錯，感興趣建議可以實地考察一下。

無錫創凱有著對工業控制領域多年積累的經驗，在藍膜芯片檢測AOI設備的生產制造上有雄厚的技術實力，所出品的藍膜芯片檢測AOI設備智能化程度高，應用廣泛，能夠為客戶解決眾多高端制造中的多種難題，有著很好的行業口碑。