用在進行半導體器件新開發類型的測試和研究，以及批量生產中測試時對半導體器件的質量控制。 FORMULA? TT3滿足微電子測量和測試的計量標準要求。

用于場效應晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的柵漏、柵源和總電荷； ● 被動組件特定參數測量（L、C、R）。 

用于全面自動檢驗半導體設備靜態參數的通用測試和測量系統，包括：場效應管和雙極型晶體管、絕緣柵雙極型晶體管、二極管、晶閘管、穩壓管、光導發光組件和微電子組件，以及： ● 電容測量：用于場效應晶體管和絕緣柵雙極型晶體管的輸入、交叉和輸出電容。半導體測試系統 FORMULA? TT3 由FORMULA? TT3 ATE提供的各個階段的高水平全面自動化測試過程，使得我們有可能專注于半導體器件測試的運行特性和偏差分析上。 硬件/軟件、設計以及在系統測試中實現的計算解決方案保證了高度可靠的結果，這些結果使測試人員的工作不受程序和誤差的影響，并在工業設備進行測量和測試時顯著提高操作效率。